施雷格线-釉质的基本结构

施雷格线-釉质的基本结构

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用落射光观察牙纵向磨片时,可见宽度不等的明暗相间带,分布在釉质厚度的内4/5处,改变入射光角度可使明暗带发生变化张博士医考整理,这些明暗带称为施雷格线。这是由于规则性的釉柱排列方向改变而产生的折光现象。
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